Ihre Rolle
In der Entwicklungsabteilung für optische Beschichtungen der Carl Zeiss Jena GmbH werden moderne, effiziente Beschichtungsprozesse für Antireflexschichten, Strahlteiler, Farbfilter und andere optische Funktionen entwickelt. In mehreren aktuellen Entwicklungsprojekten besteht Bedarf an Unterstützung bei Mess- und Programmieraufgaben.
Zu Ihren Aufgaben gehören:
1. Defekt- und topographische Charakterisierung von Prismen mittels mikroskopischem Weißlichtinterferometer (WLI)- und Rasterkraftmikroskop (AFM) durchführen
2. Umfangreiche Auswertungen, Korrelationen und Bildverarbeitungen der Messergebnisse vornehmen
3. Korrelationen von Defekteigenschaften vor und nach Beschichtung der Prismen mit optischen dünnen Schichten untersuchen
Ihr Profil
4. Bachelor-Abschluss in Physik, Materialwissenschaften, Mechatronik oder einem vergleichbaren Studiengang und Sie sind in einem Master-Studium immatrikuliert
5. Grundkenntnisse in einem der Bereiche: Herstellung dünner Schichten und Optikfertigung sowie Oberflächencharakterisierung wären ein Vorteil
6. Freude an experimenteller Arbeit und am Umgang mit präziser Messtechnik
7. Ausgeprägte Team- und Kommunikationsfähigkeiten
8. Gute Deutsch- oder Englischkenntnisse
Your ZEISS Recruiting Team:
Mrs. Selina Riccio